New?Imaging?Technologies用于半導(dǎo)體檢測的NIT成像解決方案
發(fā)布時間:2022-03-11 17:09:27 瀏覽:1636
在過去的數(shù)年里,SWIR波段被公認是半導(dǎo)體器件測試的最好波長范圍之一。不論是晶圓或太陽能發(fā)電板上的裂痕和缺陷,或是集成電路的故障分析,InGaAs波長(900m-1700nm)成像設(shè)備主要用于透視硅內(nèi)部。
除此之外,NITSWIR成像設(shè)備在便于集成到半導(dǎo)體器件生產(chǎn)線時,提供了具有吸引力的性能/價格比。
LiSaSWIR–測試電子元器件、硅片和太陽能發(fā)電板的終極設(shè)備。
LisaSWIR是為半導(dǎo)體器件測試而研發(fā)的SWIR波長穿透硅的能力。可輕松檢驗硅晶片或單個管芯。
LisaSWIR可以檢驗生產(chǎn)制造和現(xiàn)場的太陽能發(fā)電板,即使在低對比度下,也能提供極為準(zhǔn)確的小缺陷導(dǎo)致的光發(fā)光圖像。
由于其7.5μm小像素尺寸,LisaSWIR以高吞吐量獲得材料缺陷的極為清晰和清晰的圖像。

為何選擇NIT?
短波紅外線波段
小間隔
高性價比的解決方案
New Imaging Technologies是法國知名的SWIR傳感器和相機產(chǎn)品公司,New Imaging Technologies產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于機器視覺、儀器儀表、航空航天、醫(yī)療等領(lǐng)域。深圳市立維創(chuàng)展科技有限公司,獨有渠道優(yōu)勢提供New Imaging Technologies產(chǎn)品,歡迎咨詢。
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New?Imaging?Technologies?遠程監(jiān)控系統(tǒng)、無人機影響檢測、極端天氣條件下的觀測。SWIR波段的更高波長可以更好地靠近大氣湍流和霧中的可見度。
DYTRAN?的5310系列是款高溫度振動監(jiān)測系統(tǒng),通常用于環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)及高速度壽命檢測和高速度應(yīng)力篩選(HALT/HASS)。
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