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更新時間:2026-09-03
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定位:面向低雙折射、低相位差精密硬質基材;單波長 520?nm,量程0?130?nm;500 萬像素 (2056×2464)光子晶體偏振成像傳感器;非接觸無損全域面測量,3?10 秒輸出完整應力云圖;對標三鷹光器 Mitaka 低相位差機型。?注意:PA 系列不適合高相位差樹脂、厚塑膠,高應力樣品請選用 WPA 系列。
硬件基礎:自研光子晶體偏振成像陣列傳感器,無旋轉檢偏器等運動部件,無機械磨損;全部偏振信息一幀同步采集,無機械掃描延遲、無振動引入誤差。
單波長 520?nm 綠光測量技術,專為0?130nm 微弱相位差信號優化,捕捉玻璃、晶圓極微小殘余雙折射;
輸出物理量:相位差 (nm)、光軸角度 (°);選配數據處理選件,輸入材料光彈系數后換算等效應力 (MPa)。
測量速度:3?10?s 完成一整個視場二維面成像;輸出應力云圖、線剖面曲線、ROI 區域統計、CSV 數據導出。
定位:實驗室通用臺式,玻璃、石英、晶圓、光學鏡片研發與 QC;
標準視場:約 37×44?mm ~ 100×133?mm;選配變焦鏡頭縮小至 5.5×6.6?mm 微區觀測;
傳感器像素:2056×2464(約 500 萬像素);
重復精度:相位差 σ?1.0?nm;
本體重量約 23?kg;電源 AC100?240V 50/60Hz;
衍生子型號:
PA?300?L:大載臺版本,適配大尺寸基板,可選真空吸附樣品臺;
PA?300?XL:超大臺面,最大 A3 尺寸樣品,可直接測量 12 英寸晶圓、車載大尺寸蓋板玻璃。
對接奧林巴斯 / 尼康科研級顯微鏡;把光子晶體偏振傳感器集成到顯微鏡光路;
實現微米級微小區域雙折射 / 應力測量;觀察芯片局部、微小光學元件、TGV 玻璃通孔側壁應力、鍵合界面微區應力;
量程同樣 0?130?nm,500 萬像素;適合局部缺陷、微小器件分析。
可見光不透明、紅外透光材料專用;量程擴展至0?213?nm
測量波長:850?nm 近紅外;
典型樣品:LiDAR 紅外光學元件、硫系玻璃、深色紅外透光基材;
硬件結構、軟件 PA?View、像素與 PA?300 保持一致。
光源?傳感頭與樣品臺分離;支持集成到第三方設備、工裝設備,用于半產線離線自動化檢測;對外 GigE 通訊,提供外部控制 API 接口。
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 測量波長 | 520?nm(?NIR 版本為 850?nm 近紅外) |
| 相位差量程 | 0?130?nm;PA?300?NIR:0?213?nm |
| 傳感器像素 | 2056 × 2464(約 500 萬像素) |
| 輸出 | 相位差 (nm)、光軸角度 (°);應力 MPa(選配數據處理功能) |
| 測量時間 | 3?10?s / 全視場 |
| 通訊接口 | GigE |
| 配套軟件 | PA?View;云圖顯示、線剖面、ROI 區域統計、視場校正、遠程 API、CSV 導出 |
| 電源 | AC100?240V 50?60Hz |
?不適用:COP、PC 等高雙折射樹脂、厚注塑件;這類樣品相位差經常超過 130?nm,必須選用 WPA 系列。
變焦鏡頭:縮小視場局部微區觀測;
數據處理選件:應力 MPa 換算(需要輸入材料光彈系數);
真空吸附樣品臺(PA?300?L/?XL 常用,防止大基板翹曲);
遮光罩:屏蔽環境雜光干擾;
外部控制 API 接口,對接上位機 / LIMS/MES 系統;
顯微鏡整機套件(PA?micro:奧林巴斯 / 尼康顯微鏡本體)。
| 對比項 | PA 系列(低相位差) | WPA 系列(大位相差) |
|---|---|---|
| 測量波長 | 單波長 520?nm(NIR:850?nm) | 三波長 523/543/575?nm |
| 相位差量程 | 0?130?nm(?NIR:0?213?nm) | 0?3500?nm,選件最高 10000?nm |
| 像素 | 500 萬像素 | WPA?200:11 萬;WPA?300 提升 5 倍 |
| 典型樣品 | 玻璃、晶圓、藍寶石、SiC、石英 | COP、PC 樹脂、注塑件、導光板、光學膜 |
| 核心訴求 | 微弱殘余應力精密定量 | 高雙折射高分子材料應力分布 |
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