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Photonic?Lattice二維雙折射 / 殘余應力分布測量系統 PA 系列詳情

更新時間:2026-09-03點擊次數:80

PA 系列|低相位差?超高精度

Photonic?Lattice(フォトニックラティス,日本)二維雙折射 / 殘余應力分布測量系統 PA 系列
定位:面向低雙折射、低相位差精密硬質基材;單波長 520?nm,量程0?130?nm500 萬像素 (2056×2464)光子晶體偏振成像傳感器;非接觸無損全域面測量,3?10 秒輸出完整應力云圖;對標三鷹光器 Mitaka 低相位差機型。?注意:PA 系列不適合高相位差樹脂、厚塑膠,高應力樣品請選用 WPA 系列。

?核心技術原理

  1. 硬件基礎:自研光子晶體偏振成像陣列傳感器,無旋轉檢偏器等運動部件,無機械磨損;全部偏振信息一幀同步采集,無機械掃描延遲、無振動引入誤差。

  2. 單波長 520?nm 綠光測量技術,專為0?130nm 微弱相位差信號優化,捕捉玻璃、晶圓極微小殘余雙折射;

  3. 輸出物理量:相位差 (nm)、光軸角度 (°);選配數據處理選件,輸入材料光彈系數后換算等效應力 (MPa)

  4. 測量速度:3?10?s 完成一整個視場二維面成像;輸出應力云圖、線剖面曲線、ROI 區域統計、CSV 數據導出。

??全系列型號詳解

PA?300(標準臺式主機)

  • 定位:實驗室通用臺式,玻璃、石英、晶圓、光學鏡片研發與 QC;

  • 標準視場:約 37×44?mm ~ 100×133?mm;選配變焦鏡頭縮小至 5.5×6.6?mm 微區觀測;

  • 傳感器像素:2056×2464(約 500 萬像素);

  • 重復精度:相位差 σ?1.0?nm;

  • 本體重量約 23?kg;電源 AC100?240V 50/60Hz;

  • 衍生子型號:

    • PA?300?L:大載臺版本,適配大尺寸基板,可選真空吸附樣品臺;

    • PA?300?XL:超大臺面,最大 A3 尺寸樣品,可直接測量 12 英寸晶圓、車載大尺寸蓋板玻璃。

PA?micro(顯微搭載微區測量機型)

  • 對接奧林巴斯 / 尼康科研級顯微鏡;把光子晶體偏振傳感器集成到顯微鏡光路;

  • 實現微米級微小區域雙折射 / 應力測量;觀察芯片局部、微小光學元件、TGV 玻璃通孔側壁應力、鍵合界面微區應力;

  • 量程同樣 0?130?nm,500 萬像素;適合局部缺陷、微小器件分析。

PA?300?NIR(近紅外版本,850?nm 波長)

可見光不透明、紅外透光材料專用;量程擴展至0?213?nm
  • 測量波長:850?nm 近紅外;

  • 典型樣品:LiDAR 紅外光學元件、硫系玻璃、深色紅外透光基材;

  • 硬件結構、軟件 PA?View、像素與 PA?300 保持一致。

PA?300?MT(模塊化分體單元)

  • 光源?傳感頭與樣品臺分離;支持集成到第三方設備、工裝設備,用于半產線離線自動化檢測;對外 GigE 通訊,提供外部控制 API 接口。

??PA 系列通用核心參數

項目參數
測量波長520?nm(?NIR 版本為 850?nm 近紅外)
相位差量程0?130?nm;PA?300?NIR:0?213?nm
傳感器像素2056 × 2464(約 500 萬像素)
輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°);應力 MPa(選配數據處理功能)
測量時間3?10?s / 全視場
通訊接口GigE
配套軟件PA?View;云圖顯示、線剖面、ROI 區域統計、視場校正、遠程 API、CSV 導出
電源AC100?240V 50?60Hz

??典型適用樣品

?半導體:石英光掩模板、硅 / 玻璃晶圓、TGV 玻璃通孔、藍寶石、SiC 碳化硅襯底、石英舟;?光學玻璃:化學強化車載蓋板玻璃、光學鏡片、退火玻璃、激光加工后玻璃殘余應力評估;?精密光學元件:熔融石英窗口片、晶體元件;
?不適用:COP、PC 等高雙折射樹脂、厚注塑件;這類樣品相位差經常超過 130?nm,必須選用 WPA 系列。

??原廠可選配件清單

  1. 變焦鏡頭:縮小視場局部微區觀測;

  2. 數據處理選件:應力 MPa 換算(需要輸入材料光彈系數);

  3. 真空吸附樣品臺(PA?300?L/?XL 常用,防止大基板翹曲);

  4. 遮光罩:屏蔽環境雜光干擾;

  5. 外部控制 API 接口,對接上位機 / LIMS/MES 系統;

  6. 顯微鏡整機套件(PA?micro:奧林巴斯 / 尼康顯微鏡本體)。

??PA 系列 vs WPA 系列選型對照表

對比項PA 系列(低相位差)WPA 系列(大位相差)
測量波長單波長 520?nm(NIR:850?nm)三波長 523/543/575?nm
相位差量程0?130?nm(?NIR:0?213?nm)0?3500?nm,選件最高 10000?nm
像素500 萬像素WPA?200:11 萬;WPA?300 提升 5 倍
典型樣品玻璃、晶圓、藍寶石、SiC、石英COP、PC 樹脂、注塑件、導光板、光學膜
核心訴求微弱殘余應力精密定量高雙折射高分子材料應力分布

Photonic?Lattice供貨采購渠道

玉崎科學儀器(深圳)有限公司  原裝現貨供應

地址:廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學

項目負責人:林經理


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