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?玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司代理日本OTSUKA大塚電子的通知
更新時間：2026-03-30
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玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司代理日本OTSUKA大塚電子的通知
尊敬的客戶、合作伙伴及業(yè)界同仁：
我們非常榮幸地宣布，玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司（以下簡稱“玉崎科學(xué)"）已正式成為日本OTSUKA大塚電子（Otsuka Electronics）在中國市場的代理商。即日起，我們將全面負責(zé)OTSUKA大塚電子旗下光學(xué)測量系列產(chǎn)品在中國區(qū)域的銷售、技術(shù)支持及售后服務(wù)工作。
此次合作是玉崎科學(xué)在光學(xué)測量與半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域布局的重要一步。日本OTSUKA大塚電子作為光學(xué)測量設(shè)備制造商，深耕行業(yè)多年，憑借技術(shù)、嚴苛的品控，在半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜、精密涂層等領(lǐng)域樹立了行標。其產(chǎn)品線涵蓋了從手持式膜厚儀到旗艦級顯微分光膜厚儀、光譜輻射計等多種設(shè)備，以“非破壞+高精度+現(xiàn)場快測"的優(yōu)勢贏得了企業(yè)的廣泛認可。
通過本次代理合作，玉崎科學(xué)將向中國客戶引進OTSUKA大塚電子的核心產(chǎn)品線，包括但不限于：
手持式膜厚儀（SM-100系列）：基于反射光譜法，集成白光光源與微型光譜儀，機身僅重1.1kg，單手可握，無需外接復(fù)雜設(shè)備，單次檢測≤1秒，非接觸式測量不損傷樣品，適合車間、實驗室、現(xiàn)場巡檢等多種場景。
顯微分光膜厚儀（OPTM系列）：旗艦級設(shè)備，采用顯微分光干涉法，支持微區(qū)（光斑Φ3～40μm）、納米級精度測量，最多可解析50層薄膜結(jié)構(gòu)，適配半導(dǎo)體、顯示、光學(xué)鍍膜研發(fā)與質(zhì)控的需求。
晶圓薄膜厚度計（SF-3系列）：基于光譜干涉法，主打高速、長工作距，支持在線實時監(jiān)控，可穿透保護膜、玻璃窗口直接測基底厚度，適配硅晶圓、化合物半導(dǎo)體等產(chǎn)線集成場景。
高靈敏度光譜輻射計（HS-1000系列）：集成衍射光柵分光與熱電冷卻線性陣列傳感器技術(shù)，亮度測量范圍達0.005 cd/m2～400,000 cd/m2，偏振誤差＜1%，適用于LCD、有機EL等顯示設(shè)備的光譜數(shù)據(jù)、亮度、色度測量。
玉崎科學(xué)將充分發(fā)揮自身的渠道管理優(yōu)勢與技術(shù)支持能力，確保OTSUKA大塚電子產(chǎn)品在中國市場的供應(yīng)穩(wěn)定與服務(wù)質(zhì)量。我們將為客戶提供從選型咨詢、技術(shù)應(yīng)用到售后維護的全力支持，助力客戶提升生產(chǎn)效率與產(chǎn)品品質(zhì)。
感謝各界朋友長期以來的信任與支持，期待與您攜手，共同推動行業(yè)技術(shù)的進步與發(fā)展。
特此通知。
玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
2026年3月30日
2026年3月30日
