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玉科到貨：WPA?200?L 二維雙折射 / 殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)
更新時間：2026-09-03
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到貨公告
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我司新到貨 WPA?200?L 二維雙折射 / 殘余應(yīng)力測量系統(tǒng) 已完成入庫、檢驗(yàn)、上架工作，目前庫存充足，可正常接單、發(fā)貨。
WPA?200?L 二維雙折射 / 殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)
品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）
WPA?200?L 屬于 WPA?200 系列大載臺版本；光學(xué)測量性能與 WPA?200 一致，僅放大樣品承載平臺，用于中?大尺寸高相位差透明工件；非接觸無損全域面測量，2?5 秒輸出完整應(yīng)力云圖。
核心原理
搭載光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉(zhuǎn)檢偏器運(yùn)動部件；采用523?nm / 543?nm / 575?nm 三波長解包裹技術(shù)，解決高相位差相位纏繞；輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°)；選配數(shù)據(jù)處理選件換算等效應(yīng)力 MPa
我司將持續(xù)保障貨源穩(wěn)定、供貨及時，竭誠為大家提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。
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品牌負(fù)責(zé)人：林經(jīng)理
玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
2026年9月3日
