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玉科到貨：PA?300 二維雙折射殘余應力測量系統日本 Photonic?Lattice
更新時間：2026-09-03
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到貨公告
各位客戶、合作伙伴：大家好！
我司新一批Photonic?Lattice 日本 PA?300 二維雙折射殘余應力測量系統已完成入庫、檢驗、上架工作，目前庫存充足，可正常接單、發貨。
PA?300 二維雙折射殘余應力測量系統，日本 Photonic?Lattice；單波長 520?nm，相位差量程 0?130?nm；500 萬像素高分辨率；
非接觸無損全域面測量，3?10 秒輸出相位差、光軸角度分布云圖；用于玻璃、晶圓、藍寶石、SiC 等低相位差精密基材研發與品質管控；配套 PA?View 分析軟件
主要特點
超高靈敏度捕捉微弱雙折射：500 萬像素，專門針對玻璃、晶圓等低應力樣品，適合納米級殘余雙折射定量檢測；
快照式全視場成像，無需逐點掃描；無旋轉檢偏器，無機械磨損，抗振動、維護簡單；
支持變焦鏡頭，兼顧大面積全域檢測與局部微區應力觀察；
軟件支持視場校正、實時分析、遠程 API，便于對接自動化流程；
不支持三波長，不適合高相位差樹脂塑膠樣品，高應力樣品選用 WPA 系列。
??典型應用樣品
?半導體：石英光掩模板、玻璃晶圓、藍寶石、SiC 碳化硅襯底；?光學玻璃：化學強化蓋板玻璃、退火玻璃、激光加工后玻璃殘余應力評估；?精密光學元件：熔融石英窗口片、光學鏡片；?評估熱處理、強化工藝、激光加工引入的微弱殘余應力分布
我司將持續保障貨源穩定、供貨及時，竭誠為大家提供優質的產品與服務。
如需詢價、訂購、索取產品資料及資質文件，可隨時與我司對接人員聯系。
品牌負責人：林經理
玉崎科學儀器（深圳）有限公司
2026年9月2日
優勢產品：日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計、焊接機、應力表面檢查儀、LED光源機、電子天平、粘度計、膜厚計、恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機、壓力傳感器、氣體檢測儀、接近開關、拉拔機、異音檢測儀、應變測試儀、拉針儀、水平測試儀等
