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玉科到貨：PA?micro顯微型二維雙折射殘余應力測量系統Photonic?Lattice
更新時間：2026-09-03
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到貨公告
各位客戶、合作伙伴：大家好！
我司新一批 PA?micro顯微型二維雙折射殘余應力測量系統日本Photonic?Lattice已完成入庫、檢驗、上架工作，目前庫存充足，可正常接單、發貨。
PA?micro 顯微型二維雙折射殘余應力測量系統，日本 Photonic?Lattice；單波長 520?nm，相位差量程 0?130?nm；500 萬像素，搭載科研顯微鏡實現微米級微區測量，測量視場 142×170μm~3.5×4.2mm；非接觸無損快照測量，3?10 秒輸出顯微視場相位差、光軸角度分布云圖；用于 TGV 玻璃通孔、芯片局部、微小光學元件等低相位差樣品微區應力分析；配套 PA?View 分析軟件。
主要特點
顯微微區面測量：把雙折射應力測量下沉至微米尺度，觀察器件局部位置應力集中，普通臺式 PA?300 無法達到該微觀視場；快照式全視場成像，不需要逐點掃描。
兩種供貨形態：
PA?micro：完整成套，含奧林巴斯 / 尼康顯微鏡整套；開箱即可使用。
PA?micro?S：僅偏振測量機頭，可對接用戶已有兼容顯微鏡，節省設備成本。
無運動光學部件，穩定性好，適合實驗室材料微觀機理研究。
?不支持變焦鏡頭、不支持三波長色散模式；僅適合低相位差樣品；高雙折射微區樣品選用 WPA?micro。
??典型應用樣品
我司將持續保障貨源穩定、供貨及時，竭誠為大家提供優質的產品與服務。
如需詢價、訂購、索取產品資料及資質文件，可隨時與我司對接人員聯系。
品牌負責人：林經理
玉崎科學儀器（深圳）有限公司
2026年9月2日
優勢產品：日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計、焊接機、應力表面檢查儀、LED光源機、電子天平、粘度計、膜厚計、恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機、壓力傳感器、氣體檢測儀、接近開關、拉拔機、異音檢測儀、應變測試儀、拉針儀、水平測試儀等
