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玉科到貨：PA?300?MT 模塊化分體式二維雙折射 / 殘余應力測量單元
更新時間：2026-09-03
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到貨公告
各位客戶、合作伙伴：大家好！
我司新一批 已完成入庫、檢驗、上架工作，目前庫存充足，可正常接單、發貨。
PA?300?MT 模塊化分體式二維雙折射 / 殘余應力測量單元
品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）
PA?300?MT 是 PA 系列模塊化集成型測量機頭單元；光學測量性能與 PA?300 一致，光源與傳感機頭可與樣品臺分離；主打設備嵌入、半在線 / 離線自動化工位集成，既可以簡易臺式使用，也可集成到客戶工裝、自動化設備；500 萬像素，面向低相位差精密基材無損面測量，3?10 秒輸出全域雙折射云圖核心原理
像素級光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；單波長520?nm 綠光，針對 0?130?nm 微弱相位差信號優化；輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°)；選配數據處理選件輸入光彈系數換算等效應力 MPa
主要特點
光源?傳感頭可與樣品臺分離：區別 PA?300 一體化臺式；機頭可倒裝、側裝，集成至客戶自動化工裝、機械手工位、半在線檢測工位；樣品臺可由客戶自有運動機構提供。
完整繼承 PA 系列 500 萬像素高靈敏度，適合玻璃、晶圓微弱殘余雙折射定量檢測；快照式成像，無運動光學部件，適合工業環境長期穩定運行。
支持變焦鏡頭，兼顧全域檢測與局部微區觀測。
開放外部控制 API 接口：支持上位機觸發測量、獲取測量結果，對接 PLC、MES、用戶自動化軟件；支持實時解析功能選件。
兩種使用形態：①配套簡易底座做實驗室臺式；②拆除底座，機頭直接集成客戶設備。
?單波長機型，不支持三波長、不支持高位相差擴展；樣品相位差上限 130?nm；高相位差集成場景選用 WPA?300?MT。
??典型應用樣品
?半導體：石英掩模板、玻璃晶圓、藍寶石、SiC 襯底自動化工位檢測；?光學玻璃：蓋板玻璃、光學鏡片批量離線抽檢工位；?自動化設備集成：自動化治具、機械手上下料工位、半產線離線質檢站；?精密光學元件成型后殘余應力自動化評估
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品牌負責人：林經理
玉崎科學儀器（深圳）有限公司
2026年9月2日
優勢產品：日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計、焊接機、應力表面檢查儀、LED光源機、電子天平、粘度計、膜厚計、恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機、壓力傳感器、氣體檢測儀、接近開關、拉拔機、異音檢測儀、應變測試儀、拉針儀、水平測試儀等
