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玉科到貨：PA?300?NIR近紅外二維雙折射殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)
更新時間：2026-09-03
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到貨公告
各位客戶、合作伙伴：大家好！
我司新一批 已完成入庫、檢驗、上架工作，目前庫存充足，可正常接單、發(fā)貨。
PA?300?NIR 近紅外二維雙折射殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)，日本 Photonic?Lattice；測量波長 850?nm 近紅外，相位差量程 0?213?nm；500 萬像素；非接觸無損全域面測量，3?10 秒輸出相位差、光軸角度分布云圖；用于硫系玻璃、LiDAR 紅外元件等可見光不透明、近紅外可透過的低相位差樣品研發(fā)與品質(zhì)管控；配套 PA?View 分析軟件
PA?300?NIR 近紅外二維雙折射 / 殘余應(yīng)力測量系統(tǒng)
PA?300?NIR 為 PA 系列近紅外專用臺式機(jī)型；硬件架構(gòu)與 PA?300 一致，將測量光源改為850?nm 近紅外波長；用于可見光不透明、但近紅外可透過的低相位差材料；500 萬像素光子晶體偏振傳感器，非接觸無損快照測量，3?10 秒輸出二維雙折射云圖。區(qū)分：PA?300（520?nm 可見光）測普通玻璃；PA?300?NIR（850?nm）測紅外透光肉眼不透明材料；高相位差紅外樣品選用 WPA?200?NIR 三波長版本。
核心原理
像素級光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉(zhuǎn)檢偏器運動部件；采用850?nm 近紅外單波長采集偏振信息；輸出相位差 (nm)、光軸角度 (°)；選配數(shù)據(jù)處理選件，輸入材料光彈系數(shù)換算等效應(yīng)力 MPa。
我司將持續(xù)保障貨源穩(wěn)定、供貨及時，竭誠為大家提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)。
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品牌負(fù)責(zé)人：林經(jīng)理
玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司
2026年9月2日
優(yōu)勢產(chǎn)品：日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計、焊接機(jī)、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機(jī)、電子天平、粘度計、膜厚計、恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機(jī)、壓力傳感器、氣體檢測儀、接近開關(guān)、拉拔機(jī)、異音檢測儀、應(yīng)變測試儀、拉針儀、水平測試儀等
