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WPA?300二維雙折射/殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉科原裝供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?300是WPA?200系列新一代升級主力臺式機型；完整繼承WPA?200三波長大位相差測量能力，偏振傳感器分辨率提升5倍，可同時捕捉高相位差本體應力與局部微小應力集中；面向工業品質管控、研發分析；衍生大載臺版本WPA?300?L。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用523nm/543nm...

WPA?200?L二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學原裝供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?200?L屬于WPA?200系列大載臺版本；光學測量性能與WPA?200一致，僅放大樣品承載平臺，用于中?大尺寸高相位差透明工件；非接觸無損全域面測量，2?5秒輸出完整應力云圖。核心原理搭載光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用523nm/543nm/575nm三波長解包裹技術，解決高相位差相位纏繞；輸出相位差(nm)、光軸角度...

WPA?200?XL二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?200?XL為WPA?200系列超大臺面機型；光學測量性能與WPA?200、WPA?200?L保持一致，專門用于最大約500mm級超大尺寸高相位差透明工件；非接觸無損全域面測量，2?5秒輸出完整應力云圖；該型號不支持變焦鏡頭選件。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用523nm/543n...

PA?300?MT模塊化分體式二維雙折射/殘余應力測量單元品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）PA?300?MT是PA系列模塊化集成型測量機頭單元；光學測量性能與PA?300一致，光源與傳感機頭可與樣品臺分離；主打設備嵌入、半在線/離線自動化工位集成，既可以簡易臺式使用，也可集成到客戶工裝、自動化設備；500萬像素，面向低相位差精密基材無損面測量，3?10秒輸出全域雙折射云圖。核心原理像素級光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；單波長5...

PA?300?NIR近紅外二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）PA?300?NIR為PA系列近紅外專用臺式機型；硬件架構與PA?300一致，將測量光源改為850nm近紅外波長；用于可見光不透明、但近紅外可透過的低相位差材料；500萬像素光子晶體偏振傳感器，非接觸無損快照測量，3?10秒輸出二維雙折射云圖。區分：PA?300（520nm可見光）測普通玻璃；PA?300?NIR（8...

CRYSTA系列高速偏振相機瞬態動態雙折射/應力專用高速偏振成像相機品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本），與Photron（富特朗）聯合開發CRYSTA是瞬態動態雙折射/應力專用高速偏振成像相機；區別PA/WPA靜態臺式測量系統，專門捕捉微秒?毫秒級動態過程，無旋轉檢偏機械部件，單次曝光獲取全部二維偏振信息；可獨立使用，也可成套集成Rheo?Iris流變同步系統、DELTAPH高速干涉儀。核心原理光子晶體像素級微偏振陣列CMOS傳感器，2×2像...

WPA?200二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器原裝供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?200為WPA系列標準臺式基礎機型，面向高相位差、高殘余應力透明材料；采用自研光子晶體偏振成像傳感器+三波長解包裹技術；非接觸無損全視場面測量，2?5秒輸出完整應力云圖；主打實驗室研發、小樣品質評估；同系列衍生大臺面WPA?200?L、超大臺面WPA?200?XL核心原理搭載光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器等運動部件；采用523nm/5...

CRYSTA系列｜Photonic?Lattice高速偏振相機玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本），與Photron（富特朗）聯合開發定位：世界頂尖高速二維偏振成像相機；面向瞬態動態現象；單幀曝光即可獲取全域偏振信息，無旋轉檢偏器、無運動部件，捕捉微秒級動態雙折射、應力傳播、分子取向變化；可獨立相機使用，也可集成到Rheo?Iris流變同步成像、DELTAPH高速干涉儀系統?核心技術原理光子晶體微偏振陣列...

KAMAKIRI系列線掃描式離線/在線雙折射應力檢測系統玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應品牌：Photonic?Lattice（株式會社フォトニックラティス，日本）定位：光學薄膜產線專用線掃描雙折射（位相差）檢測設備，打通實驗室研發（PA/WPA臺式機）→量產在線質控；將光子晶體偏振傳感器+Photron高速相機結合，實現走帶狀態下連續掃描，輸出相位差nm、光軸角度°、應力分布云圖，替代傳統人工抽樣檢測，可實現整卷薄膜100%全幅全長度檢測。軟件：KAMAKIRILi...

PA系列｜低相位差?超高精度Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）二維雙折射/殘余應力分布測量系統PA系列定位：面向低雙折射、低相位差精密硬質基材；單波長520nm，量程0?130nm；500萬像素(2056×2464)光子晶體偏振成像傳感器；非接觸無損全域面測量，3?10秒輸出完整應力云圖；對標三鷹光器Mitaka低相位差機型。?注意：PA系列不適合高相位差樹脂、厚塑膠，高應力樣品請選用WPA系列。?核心技術原理硬件基礎：自研光子晶體偏振成像陣列傳感...

玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應供應：WPA系列大位相差?高應力樣品（Photonic?Lattice日本）產品全稱：二維雙折射/殘余應力分布測量系統WPA系列定位：面向高雙折射、大相位差樣品；三波長解包裹技術，量程0?3500nm，選配高相位差選件最高可達10000nm；非接觸無損全域面測量，數秒輸出完整應力云圖；對標三鷹光器Mitaka大位相差機型。?核心技術原理硬件基礎：自研光子晶體偏振成像陣列傳感器，無旋轉檢偏器等運動部件，無機械磨損；三波長測量技術（523n...

Photonic?Lattice（株式會社フォトニックラティス，日本）自研光子晶體偏振成像傳感器玉崎科學儀器原裝供應定位：二維雙折射/殘余應力無損面測量設備廠商，自研光子晶體偏振成像傳感器；數秒輸出整片樣品應力云圖，面向半導體、光學、顯示行業；直接對標日本三鷹光器Mitaka。測量原理：偏振光非接觸無損檢測；輸出相位差（位相差nm）、光軸角度(°)、換算應力(MPa)，生成樣品全域雙折射/應力分布云圖；無需切片、不損傷工件。軟件：WPA?View/PA?View；支持云圖、線...