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紫外線透射密度/透射率儀T5plusUV特征/測量項目◎可測量高達6.0D密度、密度測量、半色調百分比（負片/正片兼容）、透射率和校正功能。配件?孔徑：Φ3mm、Φ2mm、Φ1mm?使用說明書（含保修）?校準/驗證膠片?交流適配器（DC9-12V，0.5-0.8A）?通訊線（可選）?白色包裝盒（標配）或便攜箱（可選）產品描述可測量密度（光密度）/半色調百分比（負片/正片）/透射率。配備校正功能。體積小巧，重量輕。■主要測量對象：各類合成樹脂（薄膜、乙烯...

MIYUKI美幸輝BAR?J100｜JISDN100經濟型電動伺服蝶閥（鍍膜/鋰電常規工藝）原裝現貨供應：玉崎科學儀器（深圳）有限公司品牌負責人林經理詳細辦公地址（廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層）型號：BAR?J100，JISDN100（100A）電動伺服蝶閥，可選型?B帶電磁抱閘版本BAR系列經濟型伺服蝶閥，DC24V伺服電機直驅，蝶板式結構，性價比高，0?90°全行程無級開度調節；相比GAR閘閥成本更低，適合工業PVD鍍膜、鋰電脫氣、中試等離子腔體常...

MIYUKI美幸輝BAZ?J25｜JISDN25電動數字定點蝶閥（真空爐/釬焊定點控制）原裝供應：玉崎科學儀器（深圳）有限公司，品牌負責人林經理辦公地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層型號：BAZ?J25，JISDN25（25A）數字定點電動蝶閥，需配套原廠MS?PC定點控制器成套使用BAZ系列為檔位定點開度型蝶閥，伺服電機直驅，00?99共100檔數字定位，可直接設定5%、25%、50%、75%等固定開度；內置電磁抱閘斷電鎖位，無PID連續閉環，主打固...

PA?micro顯微型二維雙折射/殘余應力測量系統品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）PA?micro屬于PA系列顯微微區專用機型，分為完整成套PA?micro（含顯微鏡）和機頭版PA?micro?S（僅測量機頭，無顯微鏡）。將500萬像素光子晶體偏振成像單元搭載于科研級顯微鏡，實現微米級視場下低相位差、微弱殘余應力二維面測量；非接觸無損快照成像，3?10秒輸出顯微視場相位差、光軸角度云圖；專門用于微小器件局部微區應力分析。核心原理沿用PA系列...

PA?300二維雙折射/殘余應力測量系統日本Photonic?Lattice玉崎科學原裝供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）PA?300為PA系列標準臺式基礎機型；面向低相位差、微弱殘余應力精密硬質基材；搭載500萬像素光子晶體偏振成像傳感器，無旋轉運動部件；非接觸無損全域快照測量，3?10秒輸出完整應力云圖；衍生大載臺PA?300?L、超大臺面PA?300?XL、近紅外PA?300?NIR、模塊化PA?300?MT型號。核心原理自研像素級...

WPA?300?L二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?300?L是WPA?300系列大載臺工業版機型；光學傳感器性能與WPA?300一致（分辨率較WPA?200提升5倍），加大樣品承載臺面，最大樣品可達240×320mm；面向中大尺寸高相位差透明工件，無損非接觸全視場快照測量，2?5秒輸出全域應力云圖，適合工業品質管控與研發分析。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器，...

WPA?300二維雙折射/殘余應力測量系統Photonic?Lattice玉科原裝供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?300是WPA?200系列新一代升級主力臺式機型；完整繼承WPA?200三波長大位相差測量能力，偏振傳感器分辨率提升5倍，可同時捕捉高相位差本體應力與局部微小應力集中；面向工業品質管控、研發分析；衍生大載臺版本WPA?300?L。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用523nm/543nm...

WPA?200?L二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學原裝供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?200?L屬于WPA?200系列大載臺版本；光學測量性能與WPA?200一致，僅放大樣品承載平臺，用于中?大尺寸高相位差透明工件；非接觸無損全域面測量，2?5秒輸出完整應力云圖。核心原理搭載光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用523nm/543nm/575nm三波長解包裹技術，解決高相位差相位纏繞；輸出相位差(nm)、光軸角度...

WPA?200?XL二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）WPA?200?XL為WPA?200系列超大臺面機型；光學測量性能與WPA?200、WPA?200?L保持一致，專門用于最大約500mm級超大尺寸高相位差透明工件；非接觸無損全域面測量，2?5秒輸出完整應力云圖；該型號不支持變焦鏡頭選件。核心原理搭載自研光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；采用523nm/543n...

PA?300?MT模塊化分體式二維雙折射/殘余應力測量單元品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）PA?300?MT是PA系列模塊化集成型測量機頭單元；光學測量性能與PA?300一致，光源與傳感機頭可與樣品臺分離；主打設備嵌入、半在線/離線自動化工位集成，既可以簡易臺式使用，也可集成到客戶工裝、自動化設備；500萬像素，面向低相位差精密基材無損面測量，3?10秒輸出全域雙折射云圖。核心原理像素級光子晶體偏振陣列傳感器，無旋轉檢偏器運動部件；單波長5...

PA?300?NIR近紅外二維雙折射/殘余應力測量系統玉崎科學儀器（深圳）有限公司原裝現貨供應品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本）PA?300?NIR為PA系列近紅外專用臺式機型；硬件架構與PA?300一致，將測量光源改為850nm近紅外波長；用于可見光不透明、但近紅外可透過的低相位差材料；500萬像素光子晶體偏振傳感器，非接觸無損快照測量，3?10秒輸出二維雙折射云圖。區分：PA?300（520nm可見光）測普通玻璃；PA?300?NIR（8...

CRYSTA系列高速偏振相機瞬態動態雙折射/應力專用高速偏振成像相機品牌：Photonic?Lattice（フォトニックラティス，日本），與Photron（富特朗）聯合開發CRYSTA是瞬態動態雙折射/應力專用高速偏振成像相機；區別PA/WPA靜態臺式測量系統，專門捕捉微秒?毫秒級動態過程，無旋轉檢偏機械部件，單次曝光獲取全部二維偏振信息；可獨立使用，也可成套集成Rheo?Iris流變同步系統、DELTAPH高速干涉儀。核心原理光子晶體像素級微偏振陣列CMOS傳感器，2×2像...